LED功率型芯片溫度檢測
FOTRIC 220系列熱像儀應用于LED功率型芯片溫度檢測
LED功率型芯片簡介
LED具有廣泛的用途,而且具有壽命長、發光效率高等特點。但無論是面向重點照明和整體照明的高功率LED芯片,還是用于裝飾照明和一些簡單的輔助照明的低功率LED芯片,技術升級的關鍵都關乎如何開發出更高效、更穩定的LED 芯片。
由于LED產品質量問題,在工作過程中會產生大量的熱,大功率LED的熱效應尤為明顯。如果這些熱量不能及時的散發出去,就會使LED中p-n結的溫度(結溫)迅速升高,導致芯片載流子有效復合幾率下降,樹脂外殼老化等,導致光衰,這對 LED使用壽命有著嚴重影響。
雖然目前預測LED光源的壽命超過5萬小時。但這個壽命指的是理論壽命,光源在25℃下的使用壽命。在實際使用過程中,會遇到高溫、高濕等惡劣環境,放大LED光源缺陷,加速材料老化,使LED光源快速失效。例如某燈珠在結溫又115℃上升20℃到135℃時壽命會下降3/5。因此LED的發熱、散熱成為LED照明技術發展的重大課題。
客戶需要解決什么問題?
某光電科技有限公司,主要進行LED芯片、發光二極管、LED光源模組、LED發射管、LED半導體照明產品的研發和生產,主要生產國際先進的4英寸晶圓、120流明/瓦的LED功率型芯片,填補國內空白,技術國內領先。
需要觀測LED功率芯片內部的發的溫度情況與均勻性。LED中的金屬芯片的溫度在工作時應該保持一致,非金屬部分保持一致。需要實時檢測LED功率芯片的溫度變化。
當前有哪些解決方案及其弊端?
解決方案及弊端:
l LED芯片尺寸為1mm*1mm,還需要看到溫度分布。正常在20倍放大的顯微鏡下才能看到芯片內部結構,所以傳統方式很難測量。
l 使用點溫槍讀數,由于LED芯片尺寸過小,讀數及其不準確;
l 芯片太小,無法使用熱電偶進行接觸測溫,熱電偶無法安裝。
l 手持式熱像儀容易產生抖動,無法保證精密成像測溫
l 數采前端的熱電偶無法安裝,無法需要連續測試芯片溫度變化情況
FOTRIC產品如何幫助客戶解決問題及優勢
下圖為實際測試一個LED功率型芯片,芯片尺寸為1mm*1mm,客戶想要觀測LED通電后芯片表面的溫度分布情況。黃色圓點表示上電后金屬芯片的溫度情況,6個黃點應該保持溫度一致,白色圓點表示非金屬區域的溫度,應保持一致。
FOTRIC紅外熱像儀的優勢:
非接觸的方式可以直接讀出LED芯片的溫度分布情況,避免了因為接觸測溫造成的溫度變化;
由于可以配合微距鏡頭,FOTRIC熱像儀可以觀測很微小的物體;
FOTRIC熱像儀配備了研發測試臺,可以保存長時間溫度測量,從而保證更精確的測量
FOTRIC熱像儀具有旁路供電設計,可以在長時間做在線監控;
全輻射視頻可以查看溫度變化過程,后期也可以任意分析。
注意事項及配置方案
推薦采用 Fotric 226-2.該套裝內包含50μm微距鏡頭和研發測試臺。或Fotric 227/228搭配50μm微距鏡。客戶如果有更小芯片就需要用到Fotric 227/228搭配20μm微距鏡頭。
哪些客戶也需要解決此類問題
LED芯片、發光二極管、LED光源模組、LED發射管、LED半導體照明產品的研發和生產、LED半導體照明產品上下游檢測企業
其他芯片生產廠商
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